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              XTD-200全自動鍍層測厚儀

              儀器簡介:XTD-200是一款專用于檢測各種異形件,特別適用于五金類模具、衛浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測,在面對凹槽曲面深度0-90mm以內的異形件具備巨大的優勢;搭載全自動可編程移動平臺,無人值守,便可實現多樣品的自動檢測。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。產品優勢:技術參數:1.?

              • 測量面積:最小0.002mm2
              • 鍍層分析:23層鍍層24種元素
              • 儀器特點:可變焦對焦
              • 儀器優勢:同元素不同層分析
              • 聯系方式:400-850-1617
              • 服務宗旨:專注研發,專業生產,專精服務

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              儀器簡介:

              XTD-200是一款專用于檢測各種異形件,特別適用于五金類模具、衛浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

              該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測,在面對凹槽曲面深度0-90mm以內的異形件具備巨大的優勢;搭載全自動可編程移動平臺,無人值守,便可實現多樣品的自動檢測。

              被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。


              產品優勢:

              XTD儀器優勢.png


              技術參數:

              1. 元素分析范圍:氯(Cl)- 鈾(U)

              2. 涂鍍層分析范圍:鋰(Li)- 鈾(U)

              3. 厚度最低檢出限:0.005μm

              4. 成分最低檢出限:1ppm

              5. 最小測量直徑0.05mm(最小測量面積0.002mm2)

              6. 對焦距離:0-90mm

              7. 樣品腔尺寸:530mm*570mm*150mm

              8. 儀器尺寸:760mm*550mm*635mm

              9. 儀器重量:120KG


              應用領域:

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              多元迭代EFP核心算法(專利號:2017SR567637)

              專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上,計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優化迭代開發出EFP核心算法,結合先進的光路轉換技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統,只需要少量的標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

              單涂鍍層應用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

              多涂鍍層應用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

              合金鍍層應用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

              合金成分應用:如NiP/Fe,通過EFP算法,在計算鎳磷鍍層厚度的同時,還可精準分析出鎳磷含量比例。

              重復鍍層應用:不同層有相同元素,也可精準測量和分析。

              如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,第一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。


              選擇一六儀器的四大理由:

              1.一機多用,無損檢測

              2.最小測量面積0.002mm2

              3.可檢測凹槽0-90mm的異形件

              4.輕元素,重復鍍層,同種元素不同層亦可檢測


              配置清單:

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